電子元器件的檢測(cè)與篩選依據(jù)有哪些？
日期：2023-02-02 16:06:11 瀏覽量：804 標(biāo)簽: 電子元器件檢測(cè)
在正規(guī)的工業(yè)化生產(chǎn)中，都設(shè)有專(zhuān)門(mén)的元器件篩選檢測(cè)車(chē)間，備有許多通用和專(zhuān)用的篩選檢測(cè)裝備和儀器，如在安裝之前不對(duì)它們進(jìn)行篩選檢測(cè)，一旦焊入印刷電路板上，發(fā)現(xiàn)電路不能正常工作，再去檢查，不僅浪費(fèi)很多時(shí)間和精力，而且拆來(lái)拆去很容易損壞元件及印刷電路板。
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外觀質(zhì)量檢查
拿到一個(gè)電子元器件之后，應(yīng)看其外觀有無(wú)明顯損壞。如變壓器，看其所有引線有否折斷，外表有無(wú)銹蝕，線包、骨架有無(wú)破損等。如三極管，看其外表有無(wú)破損，引腳有無(wú)折斷或銹蝕，還要檢查一下器件上的型號(hào)是否清晰可辨。對(duì)于電位器、可變電容器之類(lèi)的可調(diào)元件，還要檢查在調(diào)節(jié)范圍內(nèi)，其活動(dòng)是否平滑、靈活，松緊是否合適，應(yīng)無(wú)機(jī)械噪聲，手感好，并保證各觸點(diǎn)接觸良好。
各種不同的電子元器件都有自身的特點(diǎn)和要求，各位愛(ài)好者平時(shí)應(yīng)多了解一些有關(guān)各元件的性能和參數(shù)、特點(diǎn)，積累經(jīng)驗(yàn)。
電氣性能的篩選
要保證試制的電子裝置能夠長(zhǎng)期穩(wěn)定地通電工作，并且經(jīng)得起應(yīng)用環(huán)境和其它可能因素的考驗(yàn)，對(duì)電子元器件的篩選是必不可少的一道工序。所謂篩選，就是對(duì)電子元器件施加一種應(yīng)力或多種應(yīng)力試驗(yàn)，暴露元器件的固有缺陷而不破壞它的完整性。篩選的理論是：如果試驗(yàn)及應(yīng)力等級(jí)選擇適當(dāng)，劣質(zhì)品會(huì)失效，而優(yōu)良品則會(huì)通過(guò)。人們?cè)陂L(zhǎng)期的生產(chǎn)實(shí)踐中發(fā)現(xiàn)新制造出來(lái)的電子元器件，在剛投入使用的時(shí)候，一般失效率較高，叫做早期失效，經(jīng)過(guò)早期失效后，電子元器件便進(jìn)入了正常的使用期階段，一般來(lái)說(shuō)，在這一階段中，電子元器件的失效率會(huì)大大降低。過(guò)了正常使用階段，電子元器件便進(jìn)入了耗損老化期階段，那將意味著壽終正寢。這個(gè)規(guī)律，恰似一條浴盆曲線，人們稱(chēng)它為電子元器件的效能曲線。
電子元器件失效的原因，是由于在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)時(shí)所選用的原材料或工藝措施不當(dāng)而引起的。元器件的早期失效十分有害，但又不可避免。因此，人們只能人為地創(chuàng)造早期工作條件，從而在制成產(chǎn)品前就將劣質(zhì)品剔除，讓用于產(chǎn)品制作的元器件一開(kāi)始就進(jìn)入正常使用階段，減少失效，增加其可靠性。
在正規(guī)的電子工廠里，采用的老化篩選項(xiàng)目一般有：高溫存貯老化；高低溫循環(huán)老化；高低溫沖擊老化和高溫功率老化等。其中高溫功率老化是給試驗(yàn)的電子元器件通電，模擬實(shí)際工作條件，再加上＋80℃－＋180℃的高溫經(jīng)歷幾個(gè)小時(shí)，它是一種對(duì)元器件多種潛在故障都有檢驗(yàn)作用的有效措施，也是目前采用得最多的一種方法。對(duì)于業(yè)余愛(ài)好者來(lái)說(shuō)，在單件電子制作過(guò)程中，是不太可能采取這些方法進(jìn)行老化檢測(cè)的，在大多數(shù)情況下，采用了自然老化的方式。例如使用前將元器件存放一段時(shí)間，讓電子元器件自然地經(jīng)歷夏季高溫和冬季低溫的考驗(yàn)，然后再來(lái)檢測(cè)它們的電性能，看是否符合使用要求，優(yōu)存劣汰。
在電子元器件的篩選中，要注意質(zhì)量操控，統(tǒng)籌兼顧，科學(xué)選擇，簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)，合理運(yùn)用元器件的性能參數(shù)，發(fā)揮電子元器件的功能作用。選擇元器件做到統(tǒng)籌兼顧，按照有利條件進(jìn)行合理選擇，簡(jiǎn)化電路設(shè)計(jì)提高可靠性，降額使用提高可靠性。我公司擁有專(zhuān)業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上，可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。
