車電零部件可靠性驗(yàn)證(AEC)

描述： 車用電子主要依據(jù)國(guó)際汽車電子協(xié)會(huì)(Automotive Electronics Council，簡(jiǎn)稱AEC)作為車規(guī)驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)，包括AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q101(離散組件)、AEC-Q102(離散光電LED)、AEC-Q103(壓力傳感器/麥克風(fēng)) 、AEC-Q104(多芯片組件)、AEC-Q200(被動(dòng)組件)。其測(cè)試條件雖然比消費(fèi)型芯片規(guī)范嚴(yán)苛，但測(cè)試條件仍以JEDEC或MIL-STD為主，另外加入特殊規(guī)格，例如電磁兼容性(EMC)驗(yàn)證。

車用電子測(cè)試不僅著重于產(chǎn)品壽命測(cè)試，更重要的是，將產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及產(chǎn)品組裝質(zhì)量觀念，帶入試驗(yàn)中，例如推拉力測(cè)試、錫球接合強(qiáng)度測(cè)試、彎曲測(cè)試等，將傳統(tǒng)對(duì)于電子元器件著重于電性與環(huán)境溫濕度關(guān)聯(lián)度的試驗(yàn)范疇，擴(kuò)展到應(yīng)力與機(jī)構(gòu)，做一個(gè)先期驗(yàn)證。

車用電子測(cè)試

測(cè)試條件：

測(cè)試條件