HASS試驗(yàn)（High Accelerated Stress Screen test）

描述：

HASS  （High Accelerated Stress Screen）也稱(chēng)高加速應(yīng)力篩選實(shí)驗(yàn)，產(chǎn)品通過(guò)HALT試驗(yàn)得出操作或破壞極限值后在生產(chǎn)線(xiàn)上做高加速應(yīng)力篩選，一般要求100％的產(chǎn)品參加篩選。其目的是為了使得生產(chǎn)的產(chǎn)品不存在任何隱含的缺陷或者至少在產(chǎn)品還沒(méi)有出廠(chǎng)前找到并解決這些缺陷，HASS就是通過(guò)加速應(yīng)力方式以期在短時(shí)間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品,縮短糾正措施的周期，并找到具有同樣問(wèn)題的產(chǎn)品。

目的：HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，以確保所有在HALT中找到的改進(jìn)措施能夠得已實(shí)施。HASS還能夠確保不會(huì)由于生產(chǎn)工藝和元器件的改動(dòng)而引入新的缺陷。

應(yīng)用范圍：

電工電子產(chǎn)品、設(shè)備。進(jìn)行預(yù)篩選，剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷；進(jìn)行探測(cè)篩選，找出明顯缺陷；故障分析；改進(jìn)措施。

試驗(yàn)三階段：

1、HASS Development（HASS試驗(yàn)計(jì)劃階段）

    HASS試驗(yàn)計(jì)劃必須參考前面HALT試驗(yàn)所得到的結(jié)果。一般是將溫度及振動(dòng)合并應(yīng)力中的高、低溫度的可操作界限縮小20％，而振動(dòng)條件則以破壞界限G值的50％做為HASS試驗(yàn)計(jì)劃的初始條件。然后再依據(jù)此條件開(kāi)始執(zhí)行溫度及振動(dòng)合并應(yīng)力測(cè)試，并觀察被測(cè)物是否有故障出現(xiàn)。如有故障出現(xiàn)，須先判斷是因過(guò)大的環(huán)境應(yīng)力造成的，還是由被測(cè)物本身的質(zhì)量引起的。屬前者時(shí)應(yīng)再放寬溫度及振動(dòng)應(yīng)力10%再進(jìn)行測(cè)試，屬后者時(shí)表示目前測(cè)試條件有效。如無(wú)故障情況發(fā)生，則須再加嚴(yán)測(cè)試環(huán)境應(yīng)力10%再進(jìn)行測(cè)試。

2、Proof-of-Screen（計(jì)劃驗(yàn)證階段）

    在建立HASS Profile（HASS 程序）時(shí)應(yīng)注意兩個(gè)原則：首先，須能檢測(cè)出可能造成設(shè)備故障的隱患；其次，經(jīng)試驗(yàn)后不致造成設(shè)備損壞或"內(nèi)傷"。為了確保HASS試驗(yàn)計(jì)劃階段所得到的結(jié)果符合上述兩個(gè)原則，必須準(zhǔn)備3個(gè)試驗(yàn)品，并在每個(gè)試品上制作一些未依標(biāo)準(zhǔn)工藝制造或組裝的缺陷，如零件浮插、空焊及組裝不當(dāng)?shù)取Ｒ訦ASS試驗(yàn)計(jì)劃階段所得到的條件測(cè)試各試驗(yàn)品，并觀察各試品上的人造缺陷是否能被檢測(cè)出來(lái)，以決定是否加嚴(yán)或放寬測(cè)試條件，而能使HASS Profile達(dá)到預(yù)期效果。

    在完成有效性測(cè)試后，應(yīng)再以新的試驗(yàn)品，以調(diào)整過(guò)的條件測(cè)試30～50次，如皆未發(fā)生因應(yīng)力不當(dāng)而被破壞的現(xiàn)象，此時(shí)即可判定HASS Profile通過(guò)計(jì)劃驗(yàn)證階段測(cè)試，并可做為Production HASS之用。反之則須再檢討，調(diào)整測(cè)試條件以求獲得最佳的組合。

3、Production HASS（HASS執(zhí)行階段）

    任何一個(gè)經(jīng)過(guò)Proof-of-Screen考驗(yàn)過(guò)的HASS Profile皆被視為快速有效的質(zhì)量篩選利器，但仍須配合產(chǎn)品經(jīng)客戶(hù)使用后所回饋的異常再做適當(dāng)?shù)恼{(diào)整。另外，當(dāng)設(shè)計(jì)變更時(shí)，需要相應(yīng)修改測(cè)試條件。

HASS試驗(yàn)設(shè)備圖片：