ic芯片檢測(cè)項(xiàng)目服務(wù):外觀缺陷視覺檢測(cè)
日期：2021-09-03 13:30:44 瀏覽量：2238 標(biāo)簽: 外觀檢測(cè) 芯片檢測(cè) 視覺檢測(cè) IC測(cè)試
電子信息時(shí)代的來臨，市場(chǎng)上電子產(chǎn)品琳瑯滿目，IC芯片、二極管等各種電子元器件也各式各樣，真假難辨。不注意區(qū)分，有時(shí)很難看出各種材料和芯片質(zhì)量有何不同。我們?cè)陂_始芯片測(cè)試流程之前應(yīng)先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的內(nèi)部電路，主要參數(shù)指標(biāo)，各個(gè)引出線的作用及其正常電壓。芯片很敏感，所以測(cè)試的時(shí)候要注意不要引起引腳之間的短路，任何一瞬間的短路都能被捕捉到，從而造成芯片燒壞。下面主要來介紹外觀缺陷視覺檢測(cè)，一起看看吧!
首先來了解外觀缺陷是指產(chǎn)品部分物理表面或功能存在不對(duì)稱的地方，如劃痕、黑點(diǎn)、金屬材料表面的孔洞、紙張表面的色差和壓花、夾層玻璃和其他非金屬材料表面的雜質(zhì)、損壞、污漬等。外觀缺陷不僅危害產(chǎn)品的美觀和舒適性，而且通常對(duì)商品的性能指標(biāo)產(chǎn)生負(fù)面影響。因此，生產(chǎn)企業(yè)非常重視商品外觀缺陷的檢測(cè)，這種檢驗(yàn)方法易于及時(shí)處理，根據(jù)檢驗(yàn)結(jié)果，可以分析生產(chǎn)過程中的一些問題，以避免或減少缺陷，避免潛在的貿(mào)易糾紛，維護(hù)企業(yè)聲譽(yù)。
_20210903132646_923.jpg)
芯片測(cè)試的過程是將封裝后的芯片置于各種環(huán)境下測(cè)試其電氣特性，如消耗功率、運(yùn)行速度、耐壓度等。經(jīng)測(cè)試后的芯片，依其電氣特性劃分為不同等級(jí)。而特殊測(cè)試則是根據(jù)客戶特殊需求的技術(shù)參數(shù)，從相近參數(shù)規(guī)格、品種中拿出部分芯片，做有針對(duì)性的專門測(cè)試，看是否能滿足客戶的特殊需求，以決定是否須為客戶設(shè)計(jì)專用芯片。經(jīng)一般測(cè)試合格的產(chǎn)品貼上規(guī)格、型號(hào)及出廠日期等標(biāo)識(shí)的標(biāo)簽并加以包裝后即可出廠。而未通過測(cè)試的芯片則視其達(dá)到的參數(shù)情況定作降級(jí)品或廢品。
什么是外觀缺陷檢測(cè)?在機(jī)器視覺技術(shù)里面，表面外觀缺陷檢測(cè)是一種無觸摸，無損傷的自動(dòng)識(shí)別的技術(shù)。是維護(hù)自動(dòng)化技術(shù)，智能化系統(tǒng)，高精度運(yùn)行的合理途徑。它具有可靠、光譜儀響應(yīng)范圍廣、在復(fù)雜環(huán)境中長(zhǎng)期工作和高生產(chǎn)率等優(yōu)點(diǎn)。外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)可以根據(jù)鏡頭光源來獲取產(chǎn)品的表面圖像，針對(duì)產(chǎn)品圖像進(jìn)行精準(zhǔn)定位、分辨、缺陷分類等一系列操作，及時(shí)處理并解決存在的問題。
隨著機(jī)器視覺的迅速發(fā)展，制造企業(yè)開始引進(jìn)人工智能檢測(cè)技術(shù)來對(duì)產(chǎn)品外觀缺陷進(jìn)行檢測(cè)，減少了人工成本，還大大提高了檢測(cè)的精度和效率，給企業(yè)帶來了更好的聲譽(yù)和更大的收益。創(chuàng)芯檢測(cè)始終秉持"專業(yè)，權(quán)威，高效，創(chuàng)新"的宗旨，重金購(gòu)置國(guó)際先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備，測(cè)試嚴(yán)格遵照國(guó)際檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及方法，現(xiàn)已取得CNAS認(rèn)證并獲國(guó)際互認(rèn)資質(zhì)，客戶群涵蓋海內(nèi)外多個(gè)國(guó)家和地區(qū)，是國(guó)內(nèi)素質(zhì)過硬、知名度高的專業(yè)IC檢測(cè)機(jī)構(gòu)。
