分立器件 GRM21BR61H475KE51L 失效分析報(bào)告

日期：2024-11-04 16:25:50 瀏覽量：422 作者：創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心

綜上測(cè)試分析，F(xiàn)2失效品因EOS導(dǎo)致內(nèi)部結(jié)構(gòu)燒毀而引起短路失效。