無損探傷指的是不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段。是檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量的測(cè)試手段。利用聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢對(duì)象使用性能的前提下，檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷的大小、位置、性質(zhì)和數(shù)量等信息，進(jìn)而判定被檢對(duì)象所處技術(shù)狀態(tài)(如合格與否、剩余壽命等)的所有技術(shù)手段的總稱。
常用的無損檢測(cè)方法：超聲檢測(cè)(UT)、磁粉檢測(cè)(MT)、液體滲透檢測(cè)(PT)及X射線檢測(cè)(RT)。
_20221026161117_882.jpg "怎樣選擇無損檢測(cè)方法？四種無損檢測(cè)探傷方法對(duì)比")
超聲檢測(cè)法
超聲檢測(cè)，業(yè)內(nèi)人士簡稱UT，是工業(yè)無損檢測(cè)中應(yīng)用最廣泛、使用頻率最高且發(fā)展較快的一種無損檢測(cè)技術(shù)，可以用于產(chǎn)品制造中質(zhì)量控制、原材料檢驗(yàn)、改進(jìn)工藝等多個(gè)方面，同時(shí)也是設(shè)備維護(hù)中不可或缺的手段之一。
磁粉檢測(cè)
再來了解一下，磁粉檢測(cè)的原理。鐵磁性材料和工件被磁化后，由于不連續(xù)性的存在，工件表面和近表面的磁力線發(fā)生局部畸變，而產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合適光照下目視可見的磁痕，從而顯示出不連續(xù)性的位置、形狀和大小。
磁粉檢測(cè)的適用性和局限性有：
1、磁粉探傷適用于檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面尺寸很小、間隙極窄目視難以看出的不連續(xù)性。
2、磁粉檢測(cè)可對(duì)多種情況下的零部件檢測(cè)，還可多種型件進(jìn)行檢測(cè)。
3、可發(fā)現(xiàn)裂紋、夾雜、發(fā)紋、白點(diǎn)、折疊、冷隔和疏松等缺陷。
4、磁粉檢測(cè)不能檢測(cè)奧氏體不銹鋼材料和用奧氏體不銹鋼焊條焊接的焊縫，也不能檢測(cè)銅鋁鎂鈦等非磁性材料。對(duì)于表面淺劃傷、埋藏較深洞和與工件表面夾角小于20°的分層和折疊很難發(fā)現(xiàn)。
液體滲透檢測(cè)
液體滲透檢測(cè)的基本原理，零件表面被施涂含有熒光染料或著色染料后，在一段時(shí)間的毛細(xì)管作用下，滲透液可以滲透進(jìn)表面開口缺陷中，經(jīng)去除零件表面多余的滲透液后，再在零件表面施涂顯像劑；
同樣，在毛細(xì)管的作用下，顯像劑將吸引缺陷中保留的滲透液，滲透液回滲到顯像劑中，在一定的光源下(紫外線光或白光)，缺陷處的滲透液痕跡被現(xiàn)實(shí)，(黃綠色熒光或鮮艷紅色)，從而探測(cè)出缺陷的形貌及分布狀態(tài)。
滲透檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)有：
1、可檢測(cè)各種材料；
2、具有較高的靈敏度；
3、顯示直觀、操作方便、檢測(cè)費(fèi)用低。
而滲透檢測(cè)的缺點(diǎn)有：
1、不適于檢查多孔性疏松材料制成的工件和表面粗糙的工件；
2、滲透檢測(cè)只能檢出缺陷的表面分布，難以確定缺陷的實(shí)際深度，因而很難對(duì)缺陷做出定量評(píng)價(jià)。檢出結(jié)果受操作者的影響也較大。
X射線檢測(cè)
最后一種，射線檢測(cè)，是因?yàn)?X射線穿過被照射物體后會(huì)有損耗，不同厚度不同物質(zhì)對(duì)它們的吸收率不同；
而底片放在被照射物體的另一側(cè)，會(huì)因?yàn)樯渚€強(qiáng)度不同而產(chǎn)生相應(yīng)的圖形,評(píng)片人員就可以根據(jù)影像來判斷物體內(nèi)部的是否有缺陷以及缺陷的性質(zhì)。
射線檢測(cè)的適用性和局限性：
1、對(duì)檢測(cè)體積型的缺陷比較敏感，比較容易對(duì)缺陷進(jìn)行定性。
2、射線底片易于保留，有追溯性。
3、直觀顯示缺陷的形狀和類型。
4、缺點(diǎn)不能定位缺陷的埋藏深度，同時(shí)檢測(cè)厚度有限，底片需專門送洗，并且對(duì)人身體有一定害，成本較高。
總結(jié)，超聲波、X射線探傷適用于探傷內(nèi)部缺陷；其中超聲波適用于5mm以上，且形狀規(guī)則的部件，X射線不能定位缺陷的埋藏深度，有輻射。磁粉、滲透探傷適用于探傷部件表面缺陷；其中磁粉探傷僅限于檢測(cè)磁性材料，滲透探傷僅限于檢測(cè)表面開口缺陷。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上，可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠來料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。
