ic芯片電性能檢測試驗(yàn)項(xiàng)目及檢測標(biāo)準(zhǔn)

日期:2022-03-02 17:56:00 瀏覽量:1968 標(biāo)簽: 電性能測試 ic芯片

電子電氣設(shè)備的電性能的好壞直接影響到整個(gè)電氣系統(tǒng)的安全,可靠運(yùn)行,為了保證設(shè)備安全,所有的電子電氣設(shè)備在生產(chǎn)制造過程中,必須通過各種型式試驗(yàn),保證電氣環(huán)境的安全。電性能測試包括導(dǎo)線電阻、絕緣電阻、介質(zhì)損耗角正確值、電容等導(dǎo)體或絕緣品質(zhì)的基本參數(shù)測試。電纜的工作電壓愈高,對(duì)其電性能要求也愈嚴(yán)格。

電性能的介紹:

1、電性能指標(biāo),導(dǎo)體的直流電阻和交流阻抗,絕緣層的絕緣電阻。

2、電性能主要的介質(zhì)是損耗和其中的電場分布及電場強(qiáng)度,電纜的電容、電感,載流量,金屬護(hù)層的感應(yīng)電壓和電流。

3、在電性能電纜的機(jī)械強(qiáng)度,伸長率,絕緣護(hù)層材料的機(jī)械性能,阻燃性能,絕緣老化壽命等。

4、電性質(zhì)指用電負(fù)荷具有的電特性,用電負(fù)荷的重要程度,用電負(fù)荷的用電時(shí)間、場合、目的和允許停電時(shí)間等。

5、電性能的用電性質(zhì)不同對(duì)供電質(zhì)量的要求和影響不同,在電網(wǎng)用電負(fù)荷曲線中所處的位置也有差異。

ic芯片電性能檢測試驗(yàn)項(xiàng)目及檢測標(biāo)準(zhǔn)

電性能的檢測:

電性能的檢測包括導(dǎo)線電阻、絕緣電阻、介質(zhì)損耗、電容等導(dǎo)體或絕緣品質(zhì)的基本參數(shù)測試。電纜的工作電壓愈高,對(duì)其電性能要求也愈嚴(yán)格。

1、導(dǎo)電線芯直流電阻試驗(yàn): 

每一標(biāo)稱截面的電纜的電阻應(yīng)當(dāng)不超過某一相當(dāng)?shù)臄?shù)值,否則將會(huì)增加電纜在使用時(shí)線芯損耗,從而引起電纜發(fā)熱,這樣不但消耗電能,加速塑料電纜的老化,而且給電纜運(yùn)行的可靠性、穩(wěn)定性帶來危險(xiǎn)。常用雙臂電橋測量。

2、絕緣電阻的測試

絕緣上所加的直流電壓U與泄露電流I的比值稱為絕緣電阻R。電纜的絕緣電阻主要是判斷電纜絕緣層的潮濕程度和絕緣質(zhì)量。如果電纜在制造過程中不夠干燥,或者受潮過多,絕緣電阻就大大降低。此外如果絕緣層含有過多的導(dǎo)電雜質(zhì),也會(huì)使絕緣電阻降低。電纜絕緣電阻值太小時(shí),會(huì)造成較大的漏電流,而使絕緣溫度升高,加速電線老化。電壓-電流法普遍用于線纜絕緣電阻的測定。

3、浸水電壓試驗(yàn)

大多數(shù)電氣裝備用電線電纜沒有金屬護(hù)套或金屬絲編織作為電壓試驗(yàn)時(shí)的外電極,對(duì)這些產(chǎn)品進(jìn)行耐壓試驗(yàn)時(shí)必須浸入水中進(jìn)行,也就是以水作為與產(chǎn)品與產(chǎn)品絕緣表面和均勻接觸電阻的外電極。主要適用于產(chǎn)品的絕緣線芯和單芯護(hù)套電線電纜。試驗(yàn)時(shí),導(dǎo)電線芯接高壓端,水中接低壓端。試驗(yàn)前要檢查接地可靠性,試驗(yàn)后要充分放電。

4、火花試驗(yàn)

火花耐壓試驗(yàn)是一種快速和連接進(jìn)行的耐電壓試驗(yàn)方法。試驗(yàn)的目的是發(fā)現(xiàn)工藝中的缺陷或材料中是否混有雜質(zhì),以保證產(chǎn)品的基本電氣性能?;鸹ㄔ囼?yàn)中,導(dǎo)體必須接地。

5、局部放電試驗(yàn)

指由于絕緣介質(zhì)內(nèi)部存在弱點(diǎn),在一定外加電壓下發(fā)生局部和重復(fù)的擊穿和熄滅的現(xiàn)象。試驗(yàn)?zāi)康氖牵号袛嘣嚇釉诠ぷ麟妷合掠袩o明顯的局部放電存在,考核絕緣內(nèi)的游離性能;測量絕緣內(nèi)部放電的起始電壓;測量在規(guī)定電壓下的局部放電程度。目前最常用高頻電脈沖方法測量。

相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn):

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